0+Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Где читать или купить
ЛитРес
Реклама
116 ₽
эл. книга
Читать у партнёра
«Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» у партнёра ЛитРес — реклама, внешняя ссылка
Описание
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
О книге
| Серия | Прикладная информатика. Научные статьи |
|---|---|
| Издательство | Синергия |
| Год издания | 2014 |
| Язык | ru |
| Форматы | |
| Возрастное ограничение | 0 |
Похожие книги
Частые вопросы
О чём книга «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств»?
«Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств» — это математика. В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного…
Где читать или купить «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств»?
Книгу можно читать или купить у партнёра ЛитРес (эл. книга). Цена у партнёра — 116 ₽. Переход — по кнопке в блоке «Где читать или купить».
Что почитать похожее на «Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств»?
Близкие по теме книги: «Открытие живой математики – стратегии творчества жизни», «Истина. Универсальный закон вселенной», «Математический анализ. Часть 1». Полный список — в блоке «Похожие книги».