О. М. Жигалина

Анализ дефектов кристаллического строения металлов. Методические указания к семинарам

Кристаллографический анализ структуры металлов. Методические указания к семинарам

Материалы микроэлектроники: тонкие пленки для интегрированных устройств

Исследование материалов методами рентгеноструктурного анализа. Учебно-методическое пособие